StellarNet 反射透射光譜測(cè)試系統(tǒng)介紹：

反射與透射光譜是功能優(yōu)異的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，可用于表征薄膜、涂層、半導(dǎo)體材料及工程表面。通過分析光在樣品表面的反射行為或是穿過樣品的透射行為，科研人員與生產(chǎn)廠商能夠在不接觸、不損傷樣品的前提下，評(píng)估薄膜厚度、光學(xué)參數(shù)、涂層性能以及材料各項(xiàng)特性。

StellarNet 薄膜計(jì)量檢測(cè)系統(tǒng)集成高性能光譜儀、各類光學(xué)附件以及高級(jí)分析軟件，可實(shí)現(xiàn)快速無(wú)損檢測(cè)，適用于光學(xué)涂層表征、半導(dǎo)體工藝監(jiān)控、光伏材料、顯示技術(shù)以及前沿材料科學(xué)研究。

可對(duì)薄膜、濾光片、涂層、光纖、透鏡以及幾乎所有光學(xué)元件，測(cè)試百分透射率、光密度 (OD)、吸光度與反射率。

光學(xué)計(jì)量系統(tǒng)由微型光譜儀、光源以及計(jì)量附件（反射探頭或透射夾具等）組成。系統(tǒng)支持 190?2500nm 光譜測(cè)量波段。分辨率優(yōu)于 1nm，具備科研級(jí)高穩(wěn)定光學(xué)性能與測(cè)量重復(fù)性。配套 SpectraWiz 移動(dòng)端應(yīng)用，同時(shí)支持 SMART?Control 全新操作交互界面。

光譜儀是檢測(cè)濾光片、薄膜及光學(xué)元件光學(xué)性能常用設(shè)備。可快速對(duì)幾乎任意光學(xué)元件完成百分透射率、光密度（OD）、吸光度、反射率測(cè)試，適用于研發(fā)實(shí)驗(yàn)、質(zhì)量檢測(cè)、生產(chǎn)管控，或是用于設(shè)備系統(tǒng)性能分析。

將 StellarNet 光纖光譜儀搭配反射探頭與光纖光源，采集樣品鏡面反射產(chǎn)生的正弦干涉條紋，即可計(jì)算得到薄膜厚度。可根據(jù)薄膜檢測(cè)或光學(xué)測(cè)試需求選用不同型號(hào) StellarNet 光譜儀，儀器測(cè)量波段覆蓋 190?2300nm。可選配雙通道架構(gòu)、寬波段探測(cè)器或者高分辨率光學(xué)組件，滿足各類光學(xué)測(cè)試場(chǎng)景。

光纖樣品探頭由 SL1 鎢?氪燈光源提供照明（其他光源選型見下文）。測(cè)試固體樣品顏色時(shí)，可采用 IC2 積分球替代光纖反射探頭，提升測(cè)量一致性。IC2 積分球同時(shí)可作為余弦接收器，優(yōu)化輻照度測(cè)量結(jié)果。測(cè)試固體樣品時(shí)，需要配備 RS50 白色反射標(biāo)準(zhǔn)件，建立測(cè)量參考基準(zhǔn)。

StellarNet 反射透射光譜測(cè)試系統(tǒng)選擇標(biāo)準(zhǔn)：

系統(tǒng)搭建示意圖：

濾光片透射測(cè)量系統(tǒng)（200?1700nm），配置 SL5 紫外?可見氘鹵燈光源、透射夾具、傳輸光纖、Y 型分光光纖、BLACK?Comet + DWARF?Star DUAL?DSR 雙通道光譜儀系統(tǒng)

鏡面反射測(cè)量系統(tǒng)（280?900nm），配置 SL1?Filter 帶濾光片鹵鎢燈光源、R600 反射探頭、BLACK?Comet 光譜儀

可見光濾光片透射測(cè)量系統(tǒng)（220?1100nm），配置 SL1?Filter 鹵鎢燈光源、透射夾具、F600 傳輸光纖